Подложка SiC P-тип 4H/6H-P 3C-N 4 дюйма толщиной 350 мкм Производственный класс Стандартный класс
4-дюймовая подложка SiC P-типа 4H/6H-P 3C-N таблица параметров
4 Диаметр дюйма КремнийКарбидная (SiC) подложка Спецификация
Оценка | Производство с нулевым MPD Оценка (З Оценка) | Стандартное производство Оценка (П Оценка) | Фиктивная оценка (D Оценка) | ||
Диаметр | 99,5 мм~100,0 мм | ||||
Толщина | 350 мкм ± 25 мкм | ||||
Ориентация пластины | Вне оси: 2,0°-4,0° в направлении [1120] ± 0,5° для 4H/6H-P, Oось n:〈111〉± 0,5° для 3C-N | ||||
Плотность микротрубок | 0 см-2 | ||||
Удельное сопротивление | р-тип 4H/6H-P | ≤0,1 Омꞏсм | ≤0,3 Омꞏсм | ||
n-тип 3C-N | ≤0,8 мОмꞏсм | ≤1 м Омꞏсм | |||
Первичная плоская ориентация | 4H/6H-П | - {1010} ± 5,0° | |||
3C-N | - {110} ± 5,0° | ||||
Основная плоская длина | 32,5 мм ± 2,0 мм | ||||
Вторичная плоская длина | 18,0 мм ± 2,0 мм | ||||
Вторичная плоская ориентация | Кремниевая лицевая сторона вверх: 90° по часовой стрелке. из Прайм Флэт±5,0° | ||||
Исключение краев | 3 мм | 6 мм | |||
LTV/TTV/Лук/Деформация | ≤2,5 мкм/≤5 мкм/≤15 мкм/≤30 мкм | ≤10 мкм/≤15 мкм/≤25 мкм/≤40 мкм | |||
Шероховатость | Польский Ra≤1 нм | ||||
CMP Ra≤0,2 нм | Ra≤0,5 нм | ||||
Краевые трещины от света высокой интенсивности | Никто | Совокупная длина ≤ 10 мм, отдельная длина≤2 мм | |||
Шестигранные пластины от света высокой интенсивности | Совокупная площадь ≤0,05% | Совокупная площадь ≤0,1% | |||
Политипные области под воздействием света высокой интенсивности | Никто | Совокупная площадь≤3% | |||
Визуальные включения углерода | Совокупная площадь ≤0,05% | Совокупная площадь ≤3% | |||
Поверхность кремния царапается светом высокой интенсивности | Никто | Совокупная длина≤1×диаметр пластины | |||
Краевые чипы с высокой интенсивностью света | Не допускается ширина и глубина ≥0,2 мм. | Допускается 5, ≤1 мм каждый | |||
Загрязнение поверхности кремния высокой интенсивностью | Никто | ||||
Упаковка | Кассета с несколькими пластинами или одиночный контейнер для пластин |
Примечания:
※Предельные значения дефектов применяются ко всей поверхности пластины, за исключением области исключения краев. # Царапины следует проверять только на лицевой стороне Si.
4-дюймовая подложка SiC P-типа 4H/6H-P 3C-N толщиной 350 мкм широко применяется в производстве современных электронных и силовых устройств. Обладая превосходной теплопроводностью, высоким напряжением пробоя и высокой устойчивостью к экстремальным условиям, эта подложка идеально подходит для высокопроизводительной силовой электроники, такой как высоковольтные переключатели, инверторы и радиочастотные устройства. Подложки промышленного класса используются в крупномасштабном производстве, обеспечивая надежную и высокоточную работу устройств, что имеет решающее значение для силовой электроники и высокочастотных приложений. С другой стороны, подложки «фиктивного» качества в основном используются для калибровки процессов, испытаний оборудования и разработки прототипов, помогая поддерживать контроль качества и согласованность процессов в производстве полупроводников.
СпецификацияК преимуществам композитных подложек SiC N-типа относятся:
- Высокая теплопроводность: Эффективное рассеивание тепла делает подложку идеальной для применения при высоких температурах и высокой мощности.
- Высокое напряжение пробоя: Поддерживает работу при высоком напряжении, обеспечивая надежность силовой электроники и радиочастотных устройств.
- Устойчивость к суровым условиям: Долговечен в экстремальных условиях, таких как высокие температуры и агрессивные среды, обеспечивая длительную работу.
- Точность производственного уровня: Обеспечивает высококачественную и надежную работу в крупномасштабном производстве, подходит для передовых энергетических и радиочастотных приложений.
- Пустышка для тестирования: Обеспечивает точную калибровку процесса, тестирование оборудования и создание прототипов без ущерба для пластин промышленного уровня.
В целом, 4-дюймовая подложка SiC P-типа 4H/6H-P 3C-N толщиной 350 мкм предлагает значительные преимущества для высокопроизводительных электронных приложений. Его высокая теплопроводность и напряжение пробоя делают его идеальным для сред с высокой мощностью и высокими температурами, а его устойчивость к суровым условиям обеспечивает долговечность и надежность. Подложка промышленного класса обеспечивает точную и стабильную работу при крупномасштабном производстве силовой электроники и радиочастотных устройств. Между тем, подложка-фиктивная подложка необходима для калибровки процесса, тестирования оборудования и прототипирования, обеспечивая контроль качества и согласованность в производстве полупроводников. Эти особенности делают подложки SiC очень универсальными для сложных применений.