Подложка SiC P-типа 4H/6H-P 3C-N 4 дюйма толщиной 350 мкм. Производственный класс. Класс Dummy.
Таблица параметров 4-дюймовой подложки SiC P-типа 4H/6H-P 3C-N
4 дюймовый диаметр кремнияКарбидная (SiC) подложка Спецификация
Оценка | Нулевое производство MPD Оценка (Z) Оценка) | Стандартное производство Оценка (P) Оценка) | Оценка манекена (D Оценка) | ||
Диаметр | 99,5 мм~100,0 мм | ||||
Толщина | 350 мкм ± 25 мкм | ||||
Ориентация пластины | Вне оси: 2,0°-4,0° в направлении [1120] ± 0,5° для 4H/6H-P, OОсь n:〈111〉± 0,5° для 3C-N | ||||
Плотность микротрубок | 0 см-2 | ||||
Удельное сопротивление | p-типа 4H/6H-P | ≤0,1 Ом·см | ≤0,3 Ом·см | ||
n-типа 3C-N | ≤0,8 мОмꞏсм | ≤1 м Ом ꞏсм | |||
Первичная плоская ориентация | 4H/6H-P | - {1010} ± 5,0° | |||
3C-N | - {110} ± 5,0° | ||||
Длина первичной плоскости | 32,5 мм ± 2,0 мм | ||||
Длина вторичной плоскости | 18,0 мм ± 2,0 мм | ||||
Вторичная плоская ориентация | Кремниевая поверхность вверх: 90° по часовой стрелке от плоскости Prime±5.0° | ||||
Исключение границ | 3 мм | 6 мм | |||
LTV/TTV/Бук/Варп | ≤2,5 мкм/≤5 мкм/≤15 мкм/≤30 мкм | ≤10 мкм/≤15 мкм/≤25 мкм/≤40 мкм | |||
Шероховатость | Полировка Ra≤1 нм | ||||
CMP Ra≤0,2 нм | Ra≤0,5 нм | ||||
Трещины на краях под воздействием света высокой интенсивности | Никто | Общая длина ≤ 10 мм, единичная длина ≤ 2 мм | |||
Шестигранные пластины с высокой интенсивностью света | Кумулятивная площадь ≤0,05% | Кумулятивная площадь ≤0,1% | |||
Политипные области с высокой интенсивностью света | Никто | Кумулятивная площадь≤3% | |||
Визуальные углеродные включения | Кумулятивная площадь ≤0,05% | Кумулятивная площадь ≤3% | |||
Царапины на поверхности кремния под воздействием высокоинтенсивного света | Никто | Суммарная длина ≤1×диаметр пластины | |||
Edge Chips High By Intensity Light | Не допускается ширина и глубина ≥0,2 мм | допускается 5, ≤1 мм каждый | |||
Загрязнение поверхности кремния высокой интенсивностью | Никто | ||||
Упаковка | Многопластинчатая кассета или однопластинчатый контейнер |
Примечания:
※Ограничения по дефектам применяются ко всей поверхности пластины, за исключением области исключения краев. # Царапины следует проверять только на поверхности Si.
4-дюймовая подложка SiC P-типа 4H/6H-P 3C-N толщиной 350 мкм широко применяется в производстве современных электронных и силовых устройств. Благодаря превосходной теплопроводности, высокому пробивному напряжению и высокой устойчивости к экстремальным условиям окружающей среды эта подложка идеально подходит для высокопроизводительных силовых электронных устройств, таких как высоковольтные ключи, инверторы и радиочастотные устройства. Подложки промышленного класса используются в крупносерийном производстве, обеспечивая надежную и высокоточную работу устройств, что критически важно для силовой электроники и высокочастотных приложений. Подложки же фиктивного класса, в свою очередь, используются в основном для калибровки технологических процессов, тестирования оборудования и разработки прототипов, помогая поддерживать контроль качества и стабильность технологического процесса в производстве полупроводников.
Технические характеристики. Преимущества композитных подложек SiC N-типа включают:
- Высокая теплопроводность: Эффективное рассеивание тепла делает подложку идеальной для высокотемпературных и высокомощных применений.
- Высокое напряжение пробоя: Поддерживает работу при высоком напряжении, обеспечивая надежность силовой электроники и радиочастотных устройств.
- Устойчивость к суровым условиям окружающей среды: долговечны в экстремальных условиях, таких как высокие температуры и коррозионные среды, обеспечивая длительный срок службы.
- Точность производственного уровня: Обеспечивает высокое качество и надежность работы в крупномасштабном производстве, подходит для современных энергетических и радиочастотных применений.
- Манекен для тестирования: Обеспечивает точную калибровку процесса, тестирование оборудования и создание прототипов без ущерба для качества пластин промышленного уровня.
В целом, 4-дюймовая подложка SiC P-типа 4H/6H-P 3C-N толщиной 350 мкм обеспечивает значительные преимущества для высокопроизводительных электронных приложений. Высокая теплопроводность и высокое пробивное напряжение делают её идеальным решением для работы в условиях высокой мощности и высоких температур, а устойчивость к суровым условиям эксплуатации гарантирует долговечность и надёжность. Подложка промышленного класса обеспечивает точную и стабильную работу при крупносерийном производстве силовой электроники и СВЧ-устройств. Подложка же, предназначенная для изготовления макетов, незаменима для калибровки технологических процессов, тестирования оборудования и создания прототипов, обеспечивая контроль качества и стабильность в производстве полупроводников. Эти характеристики делают подложки SiC чрезвычайно универсальными для современных приложений.
Подробная схема

