Эпитаксиальная пластина SiC для силовых приборов – 4H-SiC, N-тип, низкая плотность дефектов
Подробная схема


Введение
Эпитаксиальная пластина SiC лежит в основе современных высокопроизводительных полупроводниковых приборов, особенно тех, которые предназначены для работы в условиях высокой мощности, высокой частоты и высоких температур. Эпитаксиальная пластина SiC (сокращение от Silicon Carbide Epitaxial Wafer) представляет собой высококачественный тонкий эпитаксиальный слой SiC, выращенный на объемной подложке SiC. Технология эпитаксиальных пластин SiC быстро расширяется в электромобилях, интеллектуальных сетях, системах возобновляемой энергетики и аэрокосмической отрасли благодаря их превосходным физическим и электронным свойствам по сравнению с традиционными кремниевыми пластинами.
Принципы изготовления эпитаксиальных пластин SiC
Создание эпитаксиальной пластины SiC требует высококонтролируемого процесса химического осаждения из газовой фазы (CVD). Эпитаксиальный слой обычно выращивается на монокристаллической подложке SiC с использованием таких газов, как силан (SiH₄), пропан (C₃H₈) и водород (H₂), при температурах выше 1500 °C. Высокотемпературный эпитаксиальный рост обеспечивает превосходное кристаллическое выравнивание и минимальные дефекты между эпитаксиальным слоем и подложкой.
Процесс включает несколько ключевых этапов:
-
Подготовка субстрата: Базовая пластина SiC очищается и полируется до атомарной гладкости.
-
Рост сердечно-сосудистых заболеваний: В реакторе высокой чистоты газы реагируют, осаждая на подложке монокристаллический слой SiC.
-
Допинг-контроль: Для достижения желаемых электрических свойств в процессе эпитаксии вводится легирование N- или P-типа.
-
Инспекция и метрология: Оптическая микроскопия, АСМ и рентгеновская дифракция используются для проверки толщины слоя, концентрации легирования и плотности дефектов.
Каждая эпитаксиальная пластина SiC тщательно контролируется для поддержания строгих допусков по толщине, плоскостности поверхности и удельному сопротивлению. Возможность точной настройки этих параметров крайне важна для высоковольтных МОП-транзисторов, диодов Шоттки и других силовых устройств.
Спецификация
Параметр | Спецификация |
Категории | Материаловедение, Монокристаллические подложки |
Политип | 4H |
Допинг | Тип N |
Диаметр | 101 мм |
Допуск диаметра | ± 5% |
Толщина | 0,35 мм |
Допуск толщины | ± 5% |
Длина первичной плоскости | 22 мм (± 10%) |
TTV (Общее изменение толщины) | ≤10 мкм |
Варп | ≤25 мкм |
ПШПМ | ≤30 угловых секунд |
Отделка поверхности | Rq ≤0,35 нм |
Применение эпитаксиальных пластин SiC
Эпитаксиальные пластины SiC незаменимы во многих отраслях:
-
Электромобили (ЭМ): Устройства на основе эпитаксиальных пластин SiC повышают эффективность силовой установки и снижают вес.
-
Возобновляемая энергия: Используется в инверторах для солнечных и ветровых энергосистем.
-
Промышленные источники питания: Обеспечивает высокочастотную, высокотемпературную коммутацию с меньшими потерями.
-
Аэрокосмическая промышленность и оборона: Идеально подходит для жестких условий эксплуатации, требующих надежных полупроводников.
-
Базовые станции 5G: Компоненты на основе эпитаксиальных пластин SiC поддерживают более высокую плотность мощности для СВЧ-приложений.
Эпитаксиальная пластина SiC обеспечивает компактные конструкции, более быстрое переключение и более высокую эффективность преобразования энергии по сравнению с кремниевыми пластинами.
Преимущества эпитаксиальных пластин SiC
Технология эпитаксиальных пластин SiC обеспечивает значительные преимущества:
-
Высокое напряжение пробоя: Выдерживает напряжение в 10 раз выше, чем у кремниевых пластин.
-
Теплопроводность: Эпитаксиальная пластина SiC рассеивает тепло быстрее, позволяя устройствам работать с меньшими температурами и более надежно.
-
Высокие скорости переключения: Меньшие потери при переключении обеспечивают более высокую эффективность и миниатюризацию.
-
Широкая запрещенная зона: Обеспечивает стабильность при более высоких напряжениях и температурах.
-
Прочность материала: SiC химически инертен и механически прочен, идеально подходит для сложных условий применения.
Эти преимущества делают эпитаксиальные пластины SiC предпочтительным материалом для следующего поколения полупроводников.
FAQ: Эпитаксиальная пластина SiC
В1: В чем разница между пластиной SiC и эпитаксиальной пластиной SiC?
Пластина SiC относится к объемной подложке, в то время как эпитаксиальная пластина SiC включает в себя специально выращенный легированный слой, используемый при изготовлении устройств.
В2: Какая толщина доступна для слоев эпитаксиальных пластин SiC?
Эпитаксиальные слои обычно имеют толщину от нескольких микрометров до более 100 мкм в зависимости от требований применения.
В3: Подходит ли эпитаксиальная пластина SiC для высокотемпературных сред?
Да, эпитаксиальные пластины SiC могут работать при температурах выше 600°C, значительно превосходя кремний.
В4: Почему важна плотность дефектов в эпитаксиальных пластинах SiC?
Снижение плотности дефектов улучшает производительность и выход годных устройств, особенно для высоковольтных применений.
В5: Доступны ли эпитаксиальные пластины SiC N-типа и P-типа?
Да, оба типа производятся с использованием точного контроля легирующего газа в ходе эпитаксиального процесса.
В6: Какие размеры пластин являются стандартными для эпитаксиальных пластин SiC?
Стандартные диаметры включают 2 дюйма, 4 дюйма, 6 дюймов и все чаще 8 дюймов для крупносерийного производства.
В7: Как эпитаксиальная пластина SiC влияет на стоимость и эффективность?
Хотя изначально эпитаксиальные пластины SiC дороже кремниевых, они уменьшают размер системы и потери мощности, повышая общую экономическую эффективность в долгосрочной перспективе.