8-дюймовая кремниевая карбидная пластина SiC типа 4H-N, 0,5 мм, производственного и исследовательского класса, с индивидуальной полировкой.
Основные характеристики 8-дюймовой подложки из карбида кремния типа 4H-N включают в себя:
1. Плотность микротрубочек: ≤ 0,1/см² или ниже, например, в некоторых продуктах плотность микротрубочек значительно снижена до менее 0,05/см².
2. Соотношение кристаллических форм: соотношение кристаллических форм 4H-SiC достигает 100%.
3. Удельное сопротивление: 0,014–0,028 Ом·см, или более стабильное значение в диапазоне 0,015–0,025 Ом·см.
4. Шероховатость поверхности: CMP Si Face Ra≤0,12 нм.
5. Толщина: Обычно 500,0±25 мкм или 350,0±25 мкм.
6. Угол снятия фаски: 25±5° или 30±5° для A1/A2 в зависимости от толщины.
7. Общая плотность дислокаций: ≤3000/см².
8. Загрязнение поверхности металлом: ≤1E+11 атомов/см².
9. Изгиб и деформация: ≤ 20 мкм и ≤ 2 мкм соответственно.
Эти характеристики обуславливают важное практическое значение 8-дюймовых подложек из карбида кремния при производстве высокотемпературных, высокочастотных и мощных электронных устройств.
8-дюймовая кремниевая карбидная пластина имеет несколько областей применения.
1. Силовые приборы: Кремниевые пластины (SiC) широко используются в производстве силовых электронных устройств, таких как силовые MOSFET-транзисторы (металл-оксид-полупроводниковые полевые транзисторы), диоды Шоттки и силовые интеграционные модули. Благодаря высокой теплопроводности, высокому напряжению пробоя и высокой подвижности электронов SiC, эти устройства могут обеспечивать эффективное и высокопроизводительное преобразование энергии в условиях высоких температур, высокого напряжения и высокой частоты.
2. Оптоэлектронные устройства: Кремниевые пластины из карбида кремния играют важную роль в оптоэлектронных устройствах, используемых для производства фотодетекторов, лазерных диодов, источников ультрафиолетового излучения и т. д. Превосходные оптические и электронные свойства карбида кремния делают его предпочтительным материалом, особенно в областях применения, требующих высоких температур, высоких частот и высоких уровней мощности.
3. Радиочастотные (РЧ) устройства: Чипы из карбида кремния (SiC) также используются для производства РЧ устройств, таких как РЧ усилители мощности, высокочастотные переключатели, РЧ датчики и многое другое. Высокая термическая стабильность SiC, высокочастотные характеристики и низкие потери делают его идеальным для РЧ-приложений, таких как беспроводная связь и радиолокационные системы.
4. Высокотемпературная электроника: Благодаря высокой термической стабильности и термоупругости, кремниевые пластины SiC используются для производства электронных изделий, предназначенных для работы в условиях высоких температур, включая высокотемпературную силовую электронику, датчики и контроллеры.
Основные области применения 8-дюймовых подложек из карбида кремния типа 4H-N включают производство высокотемпературных, высокочастотных и мощных электронных устройств, особенно в автомобильной электронике, солнечной энергетике, ветроэнергетике, электровозах, серверах, бытовой технике и электромобилях. Кроме того, такие устройства, как SiC MOSFET и диоды Шоттки, продемонстрировали превосходные характеристики по частотам переключения, в экспериментах с коротким замыканием и в инверторных приложениях, что стимулирует их использование в силовой электронике.
XKH может быть изготовлен на заказ с различной толщиной в соответствии с требованиями заказчика. Доступны различные варианты шероховатости поверхности и полировки. Поддерживаются различные типы легирования (например, легирование азотом). XKH может оказывать техническую поддержку и консультационные услуги, чтобы клиенты могли решать проблемы в процессе эксплуатации. 8-дюймовая подложка из карбида кремния имеет значительные преимущества с точки зрения снижения затрат и увеличения производительности, что позволяет снизить себестоимость единицы продукции примерно на 50% по сравнению с 6-дюймовой подложкой. Кроме того, увеличенная толщина 8-дюймовой подложки помогает уменьшить геометрические отклонения и деформацию кромок во время обработки, тем самым повышая выход годной продукции.
Подробная схема













