Композитная подложка LN-on-Si толщиной 6-8 дюймов, материал Si/SiC/сапфир 0,3-50 мкм
Основные характеристики
Композитная подложка LN-on-Si размером от 6 до 8 дюймов отличается уникальными свойствами материала и настраиваемыми параметрами, что обеспечивает ее широкое применение в полупроводниковой и оптоэлектронной промышленности:
1. Совместимость с большими пластинами: размер пластины от 6 до 8 дюймов обеспечивает бесшовную интеграцию с существующими линиями по производству полупроводников (например, КМОП-процессами), снижая производственные затраты и обеспечивая массовое производство.
2. Высокое качество кристаллов: оптимизированные эпитаксиальные или склеивающие методы обеспечивают низкую плотность дефектов в тонкой пленке LN, что делает ее идеальной для высокопроизводительных оптических модуляторов, фильтров на поверхностных акустических волнах (ПАВ) и других прецизионных устройств.
3. Регулируемая толщина (0,3–50 мкм): сверхтонкие слои LN (<1 мкм) подходят для интегрированных фотонных чипов, в то время как более толстые слои (10–50 мкм) поддерживают мощные радиочастотные устройства или пьезоэлектрические датчики.
4. Несколько вариантов подложек: в дополнение к Si, в качестве базовых материалов можно выбрать SiC (высокая теплопроводность) или сапфир (высокая изоляция), чтобы удовлетворить требования высокочастотных, высокотемпературных или высокомощных приложений.
5. Термическая и механическая стабильность: кремниевая подложка обеспечивает надежную механическую поддержку, сводя к минимуму деформацию или растрескивание во время обработки и повышая выход годных устройств.
Эти характеристики позиционируют композитную подложку LN-on-Si размером от 6 до 8 дюймов как предпочтительный материал для передовых технологий, таких как связь 5G, LiDAR и квантовая оптика.
Основные приложения
Композитная подложка LN-on-Si размером от 6 до 8 дюймов широко применяется в высокотехнологичных отраслях промышленности благодаря своим исключительным электрооптическим, пьезоэлектрическим и акустическим свойствам:
1. Оптическая связь и интегрированная фотоника: позволяет использовать высокоскоростные электрооптические модуляторы, волноводы и фотонные интегральные схемы (ФИС), удовлетворяя потребности центров обработки данных и оптоволоконных сетей в пропускной способности.
Радиочастотные устройства 2.5G/6G: Высокий пьезоэлектрический коэффициент LN делает его идеальным для фильтров поверхностных акустических волн (SAW) и объемных акустических волн (BAW), улучшая обработку сигналов в базовых станциях 5G и мобильных устройствах.
3. МЭМС и датчики: пьезоэлектрический эффект LN-on-Si позволяет создавать высокочувствительные акселерометры, биосенсоры и ультразвуковые преобразователи для медицинских и промышленных применений.
4. Квантовые технологии: тонкие пленки LN, как нелинейный оптический материал, используются в квантовых источниках света (например, запутанные пары фотонов) и интегрированных квантовых чипах.
5.Лазеры и нелинейная оптика: Сверхтонкие слои LN позволяют создавать эффективные устройства генерации второй гармоники (SHG) и оптических параметрических колебаний (OPO) для лазерной обработки и спектроскопического анализа.
Стандартизированная композитная подложка LN-on-Si размером от 6 до 8 дюймов позволяет изготавливать эти устройства на крупномасштабных фабриках по производству пластин, что значительно снижает производственные затраты.
Индивидуализация и услуги
Мы предоставляем комплексную техническую поддержку и услуги по настройке композитных подложек LN-on-Si размером от 6 до 8 дюймов для удовлетворения различных потребностей в области НИОКР и производства:
1. Изготовление по индивидуальному заказу: толщина пленки LN (0,3–50 мкм), ориентация кристалла (X-срез/Y-срез) и материал подложки (Si/SiC/сапфир) могут быть адаптированы для оптимизации производительности устройства.
2. Обработка на уровне пластин: оптовые поставки 6-дюймовых и 8-дюймовых пластин, включая такие внутренние услуги, как резка, полировка и нанесение покрытия, гарантирующие готовность подложек к интеграции устройств.
3.Технические консультации и испытания: характеристика материалов (например, рентгеновская дифракция, атомно-силовая микроскопия), испытания электрооптических характеристик и поддержка моделирования устройств для ускорения проверки конструкции.
Наша миссия — сделать композитную подложку LN-on-Si размером от 6 до 8 дюймов основным материалом для оптоэлектронных и полупроводниковых приложений, предлагая комплексную поддержку от НИОКР до массового производства.
Заключение
Композитная подложка LN-on-Si размером от 6 до 8 дюймов с большим размером пластины, превосходным качеством материала и универсальностью является движущей силой прогресса в области оптической связи, 5G RF и квантовых технологий. Будь то крупносерийное производство или индивидуальные решения, мы поставляем надежные подложки и дополнительные услуги для поддержки технологических инноваций.

