12-дюймовая подложка SiC Диаметр 300 мм Толщина 750 мкм Тип 4H-N может быть изготовлен по индивидуальному заказу
Технические параметры
Технические характеристики 12-дюймовой подложки из карбида кремния (SiC) | |||||
Оценка | Производство ZeroMPD Класс (класс Z) | Стандартное производство Оценка (оценка P) | Оценка манекена (класс D) | ||
Диаметр | 3 0 0 мм~1305 мм | ||||
Толщина | 4H-N | 750 мкм±15 мкм | 750 мкм±25 мкм | ||
4H-SI | 750 мкм±15 мкм | 750 мкм±25 мкм | |||
Ориентация пластины | Вне оси: 4,0° по направлению к <1120 >±0,5° для 4H-N, На оси: <0001>±0,5° для 4H-SI | ||||
Плотность микротрубок | 4H-N | ≤0,4см-2 | ≤4см-2 | ≤25см-2 | |
4H-SI | ≤5см-2 | ≤10см-2 | ≤25см-2 | ||
Удельное сопротивление | 4H-N | 0,015~0,024 Ом·см | 0,015~0,028 Ом·см | ||
4H-SI | ≥1E10 Ом·см | ≥1E5 Ом·см | |||
Первичная плоская ориентация | {10-10} ±5,0° | ||||
Длина первичной плоскости | 4H-N | Н/Д | |||
4H-SI | Выемка | ||||
Исключение кромки | 3 мм | ||||
LTV/TTV/Бук/Варп | <5 мкм/<15 мкм/<35 мкм/<55 мкм | <5 мкм/<15 мкм/<35 □ мкм/<55 □ мкм | |||
Шероховатость | Полировка Ra≤1 нм | ||||
CMP Ra≤0,2 нм | Ra≤0,5 нм | ||||
Трещины на краях из-за света высокой интенсивности Шестигранные пластины с высокой интенсивностью света Политипные области с высокой интенсивностью света Визуальные углеродные включения Царапины на поверхности кремния под воздействием света высокой интенсивности | Никто Кумулятивная площадь ≤0,05% Никто Кумулятивная площадь ≤0,05% Никто | Общая длина ≤ 20 мм, единичная длина ≤ 2 мм Кумулятивная площадь ≤0,1% Кумулятивная площадь≤3% Общая площадь ≤3% Суммарная длина ≤1×диаметр пластины | |||
Сколы на краях с помощью света высокой интенсивности | Не допускается ширина и глубина ≥0,2 мм | Допускается 7, ≤1 мм каждое | |||
(TSD) Вывих резьбового винта | ≤500 см-2 | Н/Д | |||
(БПД) Дислокация базовой плоскости | ≤1000 см-2 | Н/Д | |||
Загрязнение поверхности кремния светом высокой интенсивности | Никто | ||||
Упаковка | Многопластинчатая кассета или однопластинчатый контейнер | ||||
Примечания: | |||||
1 Пределы дефектов применяются ко всей поверхности пластины, за исключением области исключения краев. 2Царапины следует проверять только на поверхности Si. 3 Данные по дислокациям получены только на пластинах, протравленных КОН. |
Основные характеристики
1.Производственная мощность и преимущества по стоимости: Массовое производство 12-дюймовых подложек SiC (12-дюймовых подложек из карбида кремния) знаменует собой новую эру в производстве полупроводников. Количество чипов, которые можно получить с одной пластины, достигает 2,25 раз больше, чем у 8-дюймовых подложек, что напрямую приводит к скачку в эффективности производства. Отзывы клиентов показывают, что внедрение 12-дюймовых подложек снизило их затраты на производство силовых модулей на 28%, создав решающее конкурентное преимущество на жестко конкурентном рынке.
2. Выдающиеся физические свойства: 12-дюймовая подложка SiC наследует все преимущества материала карбида кремния - ее теплопроводность в 3 раза больше, чем у кремния, а ее напряженность поля пробоя достигает 10 раз больше, чем у кремния. Эти характеристики позволяют устройствам на основе 12-дюймовых подложек стабильно работать в высокотемпературных средах, превышающих 200°C, что делает их особенно подходящими для требовательных приложений, таких как электромобили.
3.Технология обработки поверхности: Мы разработали новый процесс химико-механической полировки (CMP) специально для 12-дюймовых подложек SiC, достигая плоскостности поверхности на атомном уровне (Ra<0,15 нм). Этот прорыв решает всемирную проблему обработки поверхности пластин карбида кремния большого диаметра, устраняя препятствия для высококачественного эпитаксиального роста.
4.Характеристики терморегулирования: В практических приложениях 12-дюймовые подложки SiC демонстрируют замечательные возможности рассеивания тепла. Тестовые данные показывают, что при той же плотности мощности устройства, использующие 12-дюймовые подложки, работают при температурах на 40-50°C ниже, чем устройства на основе кремния, что значительно продлевает срок службы оборудования.
Основные приложения
1. Экосистема нового энергетического автомобиля: 12-дюймовая подложка SiC (12-дюймовая подложка из карбида кремния) производит революцию в архитектуре силовой установки электромобиля. От бортовых зарядных устройств (OBC) до главных инверторов привода и систем управления аккумулятором, повышение эффективности, обеспечиваемое 12-дюймовыми подложками, увеличивает запас хода автомобиля на 5-8%. Отчеты ведущего автопроизводителя показывают, что внедрение наших 12-дюймовых подложек сократило потери энергии в их системе быстрой зарядки на впечатляющие 62%.
2. Сектор возобновляемой энергии: На фотоэлектрических электростанциях инверторы на основе 12-дюймовых подложек SiC не только отличаются меньшими форм-факторами, но и достигают эффективности преобразования, превышающей 99%. Особенно в сценариях распределенной генерации эта высокая эффективность означает ежегодную экономию сотен тысяч юаней на потерях электроэнергии для операторов.
3. Промышленная автоматизация: преобразователи частоты, использующие 12-дюймовые подложки, демонстрируют превосходную производительность в промышленных роботах, станках с ЧПУ и другом оборудовании. Их высокочастотные коммутационные характеристики повышают скорость реакции двигателя на 30%, одновременно снижая электромагнитные помехи до одной трети от обычных решений.
4.Инновации в области потребительской электроники: Технологии быстрой зарядки смартфонов следующего поколения начали использовать 12-дюймовые подложки SiC. Прогнозируется, что продукты быстрой зарядки мощностью свыше 65 Вт полностью перейдут на решения из карбида кремния, а 12-дюймовые подложки станут оптимальным выбором по соотношению цены и производительности.
Индивидуальные услуги XKH для 12-дюймовой подложки SiC
Для удовлетворения особых требований к 12-дюймовым подложкам SiC (12-дюймовым подложкам из карбида кремния) компания XKH предлагает комплексную сервисную поддержку:
1.Настройка толщины:
Мы поставляем 12-дюймовые подложки различной толщины, включая 725 мкм, для удовлетворения различных потребностей в области применения.
2.Концентрация допинга:
Наше производство поддерживает несколько типов проводимости, включая подложки n-типа и p-типа, с точным контролем удельного сопротивления в диапазоне 0,01–0,02 Ом·см.
3.Услуги тестирования:
Благодаря наличию полного спектра испытательного оборудования на уровне пластин мы предоставляем полные отчеты о проверке.
XKH понимает, что у каждого клиента есть уникальные требования к 12-дюймовым подложкам SiC. Поэтому мы предлагаем гибкие модели делового сотрудничества для предоставления наиболее конкурентоспособных решений, будь то для:
· Образцы НИОКР
· Закупки массового производства
Наши индивидуальные услуги гарантируют, что мы сможем удовлетворить ваши особые технические и производственные потребности в 12-дюймовых подложках SiC.


