100 мм 4-дюймовая пластина GaN на сапфировом эпитаксиальном слое, пластина из нитрида галлия

Краткое описание:

Эпитаксиальный лист нитрида галлия является типичным представителем третьего поколения широкозонных полупроводниковых эпитаксиальных материалов, обладающих такими превосходными свойствами, как широкая запрещенная зона, высокая напряженность поля пробоя, высокая теплопроводность, высокая скорость дрейфа электронов при насыщении, высокая радиационная стойкость и высокая химическая стабильность.


Функции

Процесс роста структуры квантовой ямы синего светодиода GaN. Подробный процесс выглядит следующим образом

(1) Высокотемпературная сушка: сапфировая подложка сначала нагревается до 1050 ℃ в атмосфере водорода, цель — очистить поверхность подложки;

(2) Когда температура подложки падает до 510 ℃, на поверхность сапфировой подложки осаждается низкотемпературный буферный слой GaN/AlN толщиной 30 нм;

(3) Температура повышается до 10 ℃, впрыскиваются реакционные газы аммиак, триметилгаллий и силан, соответственно контролируется соответствующая скорость потока, и выращивается легированный кремнием N-типа GaN толщиной 4 мкм;

(4) Реакционный газ триметилалюминия и триметилгаллия использовался для приготовления легированных кремнием континентов N-типа A⒑ толщиной 0,15 мкм;

(5) 50 нм легированный цинком InGaN был приготовлен путем впрыскивания триметилгаллия, триметилиндия, диэтилцинка и аммиака при температуре 800℃ и регулирования различных скоростей потока соответственно;

(6) Температура была увеличена до 1020 ℃, триметилалюминий, триметилгаллий и бис(циклопентадиенил)магний были введены для приготовления 0,15 мкм Mg-легированного AlGaN P-типа и 0,5 мкм Mg-легированного G-глюкозы крови P-типа;

(7) Высококачественная пленка Sibuyan GaN P-типа была получена путем отжига в атмосфере азота при 700 ℃;

(8) Травление поверхности стаза G P-типа для выявления поверхности стаза G N-типа;

(9) Испарение контактных пластин Ni/Au на поверхность p-GaNI, испарение контактных пластин △/Al на поверхность ll-GaN для формирования электродов.

Технические характеристики

Элемент

GaN-TCU-C100

GaN-TCN-C100

Размеры

е 100 мм ± 0,1 мм

Толщина

4,5±0,5 мкм Можно настроить

Ориентация

C-плоскость (0001) ±0,5°

Тип проводимости

N-тип (нелегированный)

N-тип (легированный Si)

Удельное сопротивление (300К)

< 0,5 Q·см

< 0,05 Q·см

Концентрация носителей

< 5x1017см-3

> 1x1018см-3

Мобильность

~ 300 см2/Против

~ 200 см2/Против

Плотность дислокаций

Менее 5x108см-2(рассчитано по полуширине рентгеновской дифракции)

Структура субстрата

GaN на сапфире (стандарт: SSP, опция: DSP)

Полезная площадь поверхности

> 90%

Упаковка

Упаковано в условиях чистого помещения класса 100, в кассетах по 25 шт. или в отдельных контейнерах с использованием азота.

Подробная схема

WechatIMG540_
WechatIMG540_
вав

  • Предыдущий:
  • Следующий:

  • Напишите здесь свое сообщение и отправьте его нам